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SMX-3100M X射线探测装置
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X射线探测装置XR-100CR
反馈控制电路,但在OEM手持式X射线荧光谱仪设备应用中则强烈推荐使用温度反馈控制电路。主动温度控制(ATC)模块在PX2CR中是可选的,而在PX5中是默认标配的。 产品参数常规参数探头类型硅PIN探测
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梅特勒托利多 X32 X-ray Inspection System
X32 X-ray Inspection System精确、完整的终极检测.先进的X射线机检测功能有标准配置和定制配置可供选择,具有单通道或多通道功能和完整性检查功能,可提供出色的检测性能
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AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器
下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD) 10倍通量 & 不损失任何分辨率 能量分辨率(FWHM,[eV])峰化时间(微秒
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梅特勒托利多 X35 Bulk Flow X-ray Inspection System
X35 Bulk Flow X-ray Inspection System创新的散料检测解决方案.X35系列散料X射线系统专为松散流动的散装食品而设计,在产品进一步增值之前提供污染物检测,每小时可
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梅特勒托利多 X35 Series DXD X-ray Inspection System
X35 Series DXD X-ray Inspection System检测不易发现的污染物.优质的DXD X射线检测器在检测各种包装食品中具有出色的检测性能。作为双能量解决方案,DXD安装
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软X射线探测器
硅材料探测器软X射线探测器按照产品种类分为X射线探测器(AXUV)、紫外线增强探测器(SXUV)、紫外增强探测器(UVG)。AXUV 系列 AXUV(Absolute XUV)系列的光电二级管,可以
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X射线数字成像(DR)检测系统X-RAY 智能点料机
X-RAY 智能点料机主要功能该系统主要实现电子元器件非接触式数量统计功能,整体采用在线式设计,料盘采用高稳定的伺服系统驱动进入,通过X-RAY探测器进行图像拍摄,由软件自动识别元器件数量,并提
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X-ray sCMOS 4MP系列探测器
X-ray sCMOS 4MP系列探测器该探测器系列提供67 x 67mm 的有效探测面积以及400 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围。同时可以
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X-ray sCMOS 16MP系列探测器
X-ray sCMOS 16MP 系列探测器该探测器系列提供95.5*95.5mm 的有效探测面积以及1600 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围
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